Q1：AFM制样有哪些要求？
A：
（1）将待测样品根据实验需求使用水或酒精进行分散。确保样品在分散后形成的溶液清澈透明，看起来与水或酒精无异；
（2）根据具体情况，选择是否需要进行超声波处理，并调整超声分散的时间长短；
（3）完成分散后，取出上层清液并将其滴加到预先准备好的硅片基底上，最后可以选择将其自然晾干或用烘箱烘干。
Q2：AFM常用的测试模式有哪些？
A：
表面形貌分析：通过这种模式，可以得到样品的表面形貌图像（包括2D和3D效果），同时也能测量样品的粗糙度和高度分布。
导电性能测试（C-AFM）：不仅可以得到样品的表面形貌图，还可以绘制电流分布图，必要时，还可以进行局部的I-V曲线测量。
表面电势测试（AFM-SKPFM）：这种模式可以对样品表面电荷的分布进行半定量的分析，并能直接测量探针与样品之间的电势差。
磁性测试（AFM-MFM）：用于研究样品微观磁畴的分布情况，适用于材料的磁性特征分析。
纳米力学测试（AFM-QNM）：通过力学图谱测量，可以得到样品的杨氏模量，并根据数据绘制微区的杨氏模量分布图。此模式尤其适合较软材料的测量，能够实现高级的纳米力学成像，适用于有机物、高分子及金属等材料，且可同时获得形貌图像和模量分布。
压电力测试（AFM-PFM）：常用于薄膜、陶瓷、晶体以及纤维材料的铁电性质分析，能进行极化反转、蝴蝶曲线测试，还能实现铁电畴的操控。
Q3：AFM的扫描范围通常有多大？
A：
与扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）或金相显微镜不同，AFM并不要求像这些仪器那样精确的倍数设置。进行AFM测试时，重要的是告知所需的扫描范围。通常，AFM的扫描范围一般在10 nm × 10 nm到10 μm × 10 μm之间。如果扫描范围过小，可能无法达到预期的分辨率；而如果范围过大，则会增加测试的时间。