场效应管测量方法 k1317场效应管测量好坏

2024-12-0101:51:29综合资讯0

氮化镓(GaN)作为一种一维纳米结构,因其优异的光电性能、高电子迁移率和优良的热稳定性,已成为材料科学和纳米技术领域的研究热点。特别是其在半导体器件中的应用,涵盖了场效应晶体管、发光二极管、紫外光探测器、纳米激光器等重要领域,展现了巨大的潜力。

当前,研究人员已通过多种合成方法成功制备了不同形态的GaN一维纳米结构,其中化学气相沉积(CVD)技术和模板法利用催化剂介导作用,结合碳纳米管和多孔氧化铝等支撑材料,成为合成GaN纳米结构的重要手段。

我们采用了简单的催化CVD方法,成功制备了具有太阳形状的高质量单晶GaN纳米线。这些纳米线的直径范围为15到100纳米,长度可达到数百微米。此研究首次实现了纯立方结构GaN纳米线的合成,为开发具有优异物理性能的GaN纳米器件提供了新的可能性,也为纳米电子学和光电子学的进一步发展铺平了道路。

实验中,我们将1毫升CrCl3·6H2O的乙醇溶液与0.01克铁粉混合,超声搅拌15分钟,得到铬铁溶液作为催化剂。接着,将硅(111)衬底经过去离子水、丙酮和无水乙醇清洗后,涂上铬铁溶液,并在80°C的空气中干燥。硅衬底随后被放入含有高纯度Ga粉末的石英船中,Ga源与衬底的距离保持在10到50毫米之间。

在真空环境下,通过氮气气流带动反应,逐步加热至900°C,并保持200sccm的氨气流动90分钟。此过程结束后,反应器通过氮气冷却至室温,最终GaN纳米线沉积在硅表面。通过扫描电子显微镜(SEM)和微分析系统,我们对产物的尺寸、形态及化学成分进行了详细表征。进一步利用透射电子显微镜(TEM)和高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)对材料的晶体结构进行了深入分析。

通过电子衍射(SAED)分析,我们能够准确确定GaN纳米线的晶体结构。光学性能则通过光致发光(PL)测量进行评估,揭示了纳米线的优异光学特性。实验结果显示,当生长环境中氮气浓度较高时,得到的是大量直立的太阳形状GaN纳米线,直径约为20至30纳米,长度为几十微米,纳米线的表面光滑均匀。当反应环境中镓源浓度较高时,所生成的纳米线则呈现弯曲形态,且直径不均匀,范围从20纳米到100纳米不等。

为了进一步确认这些纳米线的组成,我们使用能量色散X射线光谱(EDS)技术,结果显示在太阳形状GaN纳米线的中心主要包含镓、氮、铁、镉和少量氧。

在透射电子显微镜(TEM)的观察下,我们发现直立的GaN纳米线在HRTEM图像中显示出清晰的晶格条纹,且晶格间距为0.276纳米,对应于六角GaN的{101̄0}晶格面。这表明这些纳米线沿[101̄0]方向生长,是纯净的单晶体。相应的SAED图案也验证了这一点,表明这些纳米线为六角GaN单晶。

对于弯曲的GaN纳米线样品,其HRTEM和SAED分析结果显示,这些纳米线同样是单晶体结构,且其晶体结构为立方相GaN。弯曲部分的纳米线直径可达100纳米,长度数百微米,且存在明显的堆垛缺陷,这为我们理解GaN纳米线的生长机制提供了重要线索。

在光致发光(PL)测量中,我们观察到两种不同形态GaN纳米线的发光特性。直立太阳形状的GaN纳米线在370纳米处展示出强烈的紫外光发射,波长对应能量为3.35电子伏特,表明其具有优异的光学特性。弯曲GaN纳米线在369纳米附近也表现出较弱的紫外发射,并在400纳米处有一个宽的发射峰,显示出锌黄铜相GaN的特性。

一维纳米结构的常见生长机制是蒸汽-液体-固体(VLS)机制,其特征是在纳米线顶端形成催化剂纳米颗粒。我们的实验中也观察到了类似现象,结合SEM、EDS、HRTEM和SAED等分析,我们推测GaN纳米线的生长过程符合VLS机制。在该过程中,铬铁合金形成的金属滴在适当的温度下作为成核点,镓和氮的蒸气溶解在金属液滴中,形成合金液滴。随着GaN浓度的增加,合金液滴达到饱和,成为GaN纳米线的生长起点。

值得注意的是,GaN纳米线的“支架”效应在生长过程中起到了关键作用,这些成核点并非随机分布,而是在支架表面,这可能是导致GaN纳米线形态特殊、质量优异的原因之一。

我们提出一种假设,认为GaN纳米线现的堆垛缺陷可能对GaN的生长能量产生了影响,从而形成了亚稳态的立方相GaN结构。这一过程可能为GaN纳米线的形貌控制及其在电子光学器件中的应用提供了新的思路。

通过CVD方法和VLS机制,我们成功制备了直立和弯曲的太阳形状GaN纳米线。直立的GaN纳米线具有约20纳米的直径,结构均匀、质量优良,呈现六角GaN晶体结构;而弯曲的GaN纳米线则展现出纯净的立方GaN结构,直径可达100纳米,长度可达数百微米,且存在堆垛缺陷。光致发光谱分析表明,这些纳米线在370纳米和400纳米处具有显著的紫外发射峰,显示出其在光电子和电子器件中具有广泛的应用前景。