透射电子显微镜（TEM）
透射电子显微镜（英文：Transmission electron microscopy），简称透射电镜，是一种利用加速和的电子束投非常薄的样品上，通过电子与样品中的原子碰撞改变方向，从而产生明暗不同的影像的仪器。其分辨率高达0.1～0.2nm，放大倍数为几万至百万倍，主要用于观察超微结构，即小于0.2µm、光学显微镜下无法看清的结构。
工作原理
透射电镜的成像原理与光学显微镜有异曲同工之妙，但二者所用的照明束和聚焦成像用的透镜截然不同。光学显微镜使用可见光作为照明束，而透射电镜则使用电子为照明束；光学显微镜中聚焦成像使用的是玻璃透镜，而透射电镜中则为磁透镜。由于电子波长极短，且与物质作用遵从布拉格方程，透射电镜具有高分辨率及结构分析功能。
成像原理详解
吸收像：当电子质量、密度大的样品时，样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。
衍射像：电子束被样品衍射后，样品中晶体各部分的衍射能力不同，从而反映出晶体缺陷的分布。
相位像：当样品薄至100Å以下时，电子可以传过样品，波的振幅变化可忽略，成像主要来自于相位的变化。
组件介绍
电子枪：发射电子的关键部件，由阴极、栅极和阳极组成，加速并加压电子束。
聚光镜：电子束，控制照明强度和孔径角。
样品室：放置待观察样品的空间，装有倾转台以改变试样角度，并配备加热、冷却等设备。
物镜：高倍短距透镜，主要作用是放大电子像，是决定透射电镜分辨能力和成像质量的关键。
还有如中间镜、透射镜等组件，共同协作以提供高质量的电子图像。
系统与功能
照明系统：分为电子枪和会聚镜两部分，确保电子束的稳定性和相干性。
成像系统：包括样品室、物镜等部件，形成并放大电子图像。
观察照相室：将电子图像反映在荧光屏上，并可进行照相记录。
真空系统：确保镜筒内的真空度，避免电子与气体分子的散射和电离问题。
供电控制系统：提供稳定的高压直流电源和透镜励磁电源，保证电镜的稳定运行和高质量成像。
附加功能与设备
现代高性能的透射电镜还配备了扫描附件、能谱仪、电子能量损失谱等先进设备，用于更深入的结构分析和研究。