大家好，我作为技术分享者，非常高兴看到大家积极学习，踊跃发表观点。我写这些文章的目的，就是希望能对大家有所帮助。再次感谢大家的支持。
在前一篇文章中，我们讨论了IGBT（绝缘栅双极型晶体管）的工作原理。若是有朋友错过，可点击下方蓝色标题进行回顾。
今日的主题是关于IGBT好坏的测量方法。
大家是否好奇如何检测可控硅（晶闸管）或mos管的好坏呢？若想了解，只需轻点下方相关蓝色标题即可跳转至相应内容。
在开始测量IGBT的好坏之前，首先需要确定其极性。
将万用表设置为R×1KQ位置。测量时，若一级与另外两极的电阻值为无穷大，且更换表笔后该极与另外两极的电阻值仍为无穷大，则可判断此极为栅极（G）。
接着，用万用表测量剩下的两极。若被测电阻为无穷大，更换表笔后被测电阻值变小，首次测量到小电阻值时，可判断红色表笔接的是集电极（C），黑色表笔接的是发射极（E）。
进行IGBT放电操作时，请确保将3个端子短接在一起，并在测试过程中切勿触摸任何端子，始终保持IGBT置于其黑色外壳上。
在测试过程中，将最小的引线作为连接，使用电阻从C端提供触发电压至G端。一个工作正常的IGBT会使万用表的指针移动并指向某个电阻值。
以下是IGBT好坏测量的图解及相关说明：
图解一：IGBT好坏测量图
图解二：移除触发电压后，若指针仍保持在同一位置，则表明IGBT状况良好；若不是，则为损坏的IGBT。
图解三及以后：详细展示了IGBT各引脚在测试过程中的连接方式及万用表的反应情况，以帮助大家更直观地理解测试过程。
还需注意测试时使用的万用表类型。例如，模拟万用表中黑色表笔为V+，红色表笔为V-的版本，在设置为电阻测试功能时的工作方式。
除了上述的测量方法外，还提供了使用数字万用表测试IGBT的步骤。包括查找引脚功能、短接或连接引脚放电、设置万用表的不同测试功能以及观察万用表的反应等。
最后需要强调的是：在测试所有步骤之前，应先检查IGBT是否存在短路和开路的情况。因为大电流和大功率的IGBT常常会因这些情况而失效。
以上就是关于IGBT检测好坏的方法分享，希望能对大家有所帮助。在此也希望大家能继续支持我，一同进步。